尼得科/NIDEC

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新规开发/定制品

半导体封装检测装置(GATS-7512)

操作性能提高、节省空间

分步&重复式OPEN/LEAK自动电路板检测装置。 高精度对位・高速测试仪双台面往复结构节省空间的新一代机型。 综合对位精度±5.0μm。

特点
分步&重复双台面 通用工作架台 Sheet电路板

关联信息

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